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簡介:測試電壓: AC 50V~242V ≤±5%, 任意設定 泄漏電流: 20μA~10000μA, ≤±5%, 任意設定 輸入阻抗: 1750Ω(模擬人體阻抗) 測試時間: 1s~999s ≤±5%, 任意設定

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簡介:測量精度 0.20△E*ab以內 顯示內容 △E*ab、CIE Lab、△Lab、CIE Lch 測量范圍 L:0-100 a:-128—127 b:-128—127 測量時間 約3秒 測量間距 約2秒 測量孔徑 ¢8mm 自動關機 待機5分鐘,自動關機 測量光源 C光源

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簡介:波長范圍: 325-1000nm 波長準確度: 2nm 波長重復性: 1nm 光譜帶寬: 5nm 雜散光: ≤0.5%T(@340nm) 光度范圍: 0%T -125.0%T, -0.097 -1.999A, 光度準確度: 0.5%T 光度重復性: 0.3%T

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簡介:測量范圍:-32 ~ 350℃ (-26~662℉) 精確度:±1.5% or ±1.5℃ 重復性:±1% or ±1℃ 物距比:12:1 發射率:0.95預設 分辨率:0.1℃/℉

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簡介:三種操作模式:所有金屬式,圓盤式,標記式; 2.LCD顯示金屬種類和深度; 3.探測深度:1米; 4.三種不同聲音區分不同金屬; 5.耗電量少; 6.頻率:6.6KHz; 7.可變式S桿和手托架; 8.8 英寸防水探頭; 9.兩節9V堿型電池;