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簡(jiǎn)介:384×288探測(cè)器 超高的熱靈敏度 優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量 精確的非接觸測(cè)量 豐富的測(cè)量分析功能 快速自動(dòng)聚焦 實(shí)時(shí)原始數(shù)據(jù)傳輸 多種連接方式(火線或以太網(wǎng)) 豐富的SDK開發(fā)包

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簡(jiǎn)介:1、檢測(cè)半徑:0.2-60mm 2、檢測(cè)精度:-1~1mm 3、檢測(cè)時(shí)間:每個(gè)斷面2~3分鐘 4、檢測(cè)方位角:30度~330度 5、一次測(cè)量記錄斷面數(shù):200個(gè)斷面 6、數(shù)據(jù)傳輸方式:串口RS232

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簡(jiǎn)介:測(cè)量精度 0.20△E*ab以內(nèi) 顯示內(nèi)容 △E*ab、CIE Lab、△Lab、CIE Lch 測(cè)量范圍 L:0-100 a:-128—127 b:-128—127 測(cè)量時(shí)間 約3秒 測(cè)量間距 約2秒 測(cè)量孔徑 ¢8mm 自動(dòng)關(guān)機(jī) 待機(jī)5分鐘,自動(dòng)關(guān)機(jī) 測(cè)量光源 C光源

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