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簡介:測量精度 0.20△E*ab以內(nèi) 顯示內(nèi)容 △E*ab、CIE Lab、△Lab、CIE Lch 測量范圍 L:0-100 a:-128—127 b:-128—127 測量時間 約3秒 測量間距 約2秒 測量孔徑 ¢8mm 自動關(guān)機 待機5分鐘,自動關(guān)機 測量光源 C光源

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簡介:1、超高靈敏度,可以探測到極小的金屬物品 2、如遇到干擾,可以通過調(diào)節(jié)按鈕消除干擾 3、開機自動檢測,無須調(diào)節(jié),掃描面積大,可快速準確完成探測

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簡介:探測器性能 探測器類型 非制冷焦平面微熱型 像素 160×120 圖像性能 視場角 30o×23o 熱靈敏度 0.08℃, 在30℃時 幀頻 50Hz 聚焦 固定焦距 有效檢測距離 ≥50m 波長范圍 8~14um 啟動時間 輸出熱像≤20s@30℃

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簡介:電壓測量精度 ≤±1% 輸入阻抗 1000 MΩ 顯示方式 全數(shù)顯 測試方式 真有效值測量,適合各種波形 環(huán)境要求 相對溫度≤75%RH 環(huán)境溫度0~40℃

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簡介:50Hz正弦波形 時間控制 1~99(s) ≤±5% 手控∞ 顯示方式 全數(shù)顯 測試判別 合格/不合格 不合格聲光報警 測試方式 動態(tài)測試